gOD transforms raw inspection and measurement data from any vendor's tools — AOI, thermal imaging, resistance probing, and more — into classified, visualized, and fully traceable defect intelligence, at a fraction of the cost of legacy solutions.
gODは、あらゆるベンダーの検査・計測装置 — AOI、サーマルイメージング、抵抗プロービングなど — からのデータを、分類・可視化・完全なトレーサビリティを備えた欠陥インテリジェンスに変換します。従来ソリューションの数分の一のコストで実現します。
gOD is a modular analytics platform built to grow with your needs — from wafer-level defect visualization to AI-driven predictive intelligence across your entire operation.
gODはお客様のニーズに合わせて拡張可能なモジュール式分析プラットフォームです。ウェーハレベルの欠陥可視化から、オペレーション全体にわたるAI駆動の予測インテリジェンスまで対応します。
gOD integrates inspection and measurement data from any vendor's tools — AOI, thermal, probe, and more — into a single analytical environment. Visualization, classification, cross-layer tracking, and customizable modules — deployed at leading semiconductor manufacturers across Japan.
gODはあらゆるベンダーのツール — AOI、サーマル、プローブなど — からの検査・計測データを単一の分析環境に統合します。可視化、分類、クロスレイヤー追跡、カスタマイズ可能なモジュールを備え、日本の主要半導体メーカーに導入済みです。
Integrated AI labeling engine. Generate tens of thousands of training labels in hours — dramatically accelerating defect classification model development.
統合AIラベリングエンジン。数時間で数万件のトレーニングラベルを生成し、欠陥分類モデルの開発を大幅に加速。
Backend AI that sifts through aggregated data from multiple tools to surface analytic insights, defect predictions, and yield forecasts — enabling earlier intervention.
複数ツールの集約データをAIが分析し、分析的洞察、欠陥予測、歩留まり予測を提供。より早期の介入を可能にします。
Bespoke module development tailored to your specific process. Direct collaboration with our engineering team, with rapid turnaround that larger vendors cannot match.
お客様固有のプロセスに合わせたオーダーメイドのモジュール開発。エンジニアリングチームとの直接協業で、大手ベンダーにはない迅速な対応を実現。
The gOD engine is not limited to semiconductor inspection. Any industry that requires large-scale data aggregation, pattern recognition, and AI-driven analysis across complex datasets is a candidate — from photonics and automotive to medical devices and advanced materials.
gODエンジンは半導体検査に限定されません。大規模データ集約、パターン認識、複雑なデータセットにわたるAI駆動分析を必要とするあらゆる産業が対象です。フォトニクス、自動車、医療機器、先端材料まで。
gOD ingests inspection and measurement data from across your production line — AOI, thermal, probe, and more — and transforms it into a unified, high-performance analytics environment.
gODは生産ライン全体の検査・計測データ — AOI、サーマル、プローブなど — を取り込み、統合された高性能分析環境に変換します。
Interactive, high-resolution wafer maps with multi-type defect overlays. Zoom from lot-level overviews to individual die. Handles datasets with millions of data points across multiple inspection and measurement tools simultaneously.
複数種類の欠陥オーバーレイを備えたインタラクティブな高解像度ウェーハマップ。ロットレベルの概要から個別ダイまでズーム可能。複数の検査・計測装置からの数百万のデータポイントを同時に処理。
Computer vision models trained on semiconductor defect morphology automatically classify defects by type and severity. Cluster analysis reveals spatial patterns invisible to manual review.
半導体欠陥の形態学に基づいて訓練されたコンピュータビジョンモデルが、欠陥を種類と重要度で自動分類。クラスター分析により、手動レビューでは見えない空間パターンを発見。
Trace defects across multiple manufacturing layers and process steps. Identify the originating layer of critical defects. Visualize propagation paths to enable targeted corrections at the source.
複数の製造レイヤーとプロセスステップにわたって欠陥を追跡。重大欠陥の発生レイヤーを特定。伝播経路を可視化し、発生源での的確な修正を可能に。
Unlike competitor solutions locked to specific hardware, gOD ingests data from any vendor's inspection and measurement tools — AOI, thermal imaging, resistance probing, and beyond. If the data is plottable, gOD can receive it. One platform for your entire fab, regardless of equipment mix.
特定のハードウェアにロックされた競合製品とは異なり、gODはあらゆるベンダーの検査・計測装置 — AOI、サーマルイメージング、抵抗プロービングなど — からデータを取り込みます。プロット可能なデータであれば、gODで受け取れます。装置構成に関わらず、工場全体を1つのプラットフォームで管理。
Competitors require massive capital expenditure and months to customize. gOD delivers comparable analytics at a fraction of the cost with customization in days.
競合製品は多額の設備投資とカスタマイズに数ヶ月を要します。gODはその数分の一のコストで、数日でカスタマイズ可能な同等の分析能力を提供します。
gOD has been deployed at leading Japanese semiconductor manufacturers for over three years, with a growing base of enterprise customers and active distribution partnerships.
gODは3年以上にわたり日本の主要半導体メーカーに導入されており、法人顧客基盤と販売パートナーシップの拡大を続けています。
gOD is built as an adaptable AI platform. The same data aggregation, pattern recognition, and analytical intelligence that powers semiconductor inspection can be deployed wherever complex data demands fast, precise decision-making.
gODは適応性の高いAIプラットフォームとして設計されています。半導体検査を支えるデータ集約、パターン認識、分析インテリジェンスは、複雑なデータが迅速で正確な意思決定を求めるあらゆる場所に展開可能です。
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